新標(biāo)準(zhǔn)DB-D1a試塊 DB-D1b試塊 階梯試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊
上海雙旭標(biāo)準(zhǔn)試塊產(chǎn)品介紹
DB-D1a試塊
產(chǎn)品參數(shù):
- 材質(zhì):通常為20#鋼或45#鋼,經(jīng)精密加工與熱處理。
- 標(biāo)準(zhǔn):符合JB/T 10063-1999《超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件》或相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征:包含一組不同深度(如Φ2x200mm平底孔)的人工反射體,用于測定探傷儀和探頭的組合性能,如靈敏度、分辨力、盲區(qū)等。
- 典型尺寸:長約250mm,寬約50mm,厚度約20mm(具體尺寸以實(shí)物為準(zhǔn))。
使用注意事項(xiàng):
- 使用前需清潔試塊表面,確保耦合良好。
- 避免磕碰、劃傷,防止人工缺陷(平底孔)變形或堵塞。
- 定期校驗(yàn),確保其尺寸和聲學(xué)性能的準(zhǔn)確性。
- 使用后應(yīng)涂防銹油,存放于干燥、無腐蝕的環(huán)境中。
DB-D1b試塊
產(chǎn)品參數(shù):
- 材質(zhì):與DB-D1a類似,多為優(yōu)質(zhì)碳素鋼。
- 標(biāo)準(zhǔn):同樣遵循JB/T 10063等國內(nèi)超聲探傷標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征:是DB-D1a的變體,通常區(qū)別在于人工反射體的位置、深度或類型(例如可能包含橫孔),用于特定性能測試或?qū)Ρ取?/li>
- 典型尺寸:與DB-D1a試塊相近,具體設(shè)計(jì)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)版本而定。
使用注意事項(xiàng):
- 注意事項(xiàng)同DB-D1a,需特別注意其與DB-D1a在用途上的區(qū)別,避免誤用。
- 明確其校準(zhǔn)的具體項(xiàng)目(如斜探頭的入射點(diǎn)、折射角等)。
階梯試塊
產(chǎn)品參數(shù):
- 材質(zhì):通常為不銹鋼或工具鋼,具有良好的尺寸穩(wěn)定性。
- 標(biāo)準(zhǔn):符合GB/T 11259、ASTM E428等國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征:具有一系列已知高度差的階梯狀平面,用于校準(zhǔn)超聲波測厚儀的線性度、測量精度和聲速設(shè)置。
- 典型尺寸:包含多個(gè)臺階(如從1.0mm到25.0mm),每個(gè)臺階的厚度值精確標(biāo)定。
使用注意事項(xiàng):
- 使用前確保臺階表面清潔、無毛刺和油污。
- 探頭放置需平穩(wěn),耦合劑適量,以獲得穩(wěn)定讀數(shù)。
- 避免在臺階邊緣進(jìn)行測量,應(yīng)在臺階中心區(qū)域操作。
- 定期用更高等級的量具(如千分尺)校驗(yàn)臺階的實(shí)際厚度。
標(biāo)準(zhǔn)試塊(泛指)
產(chǎn)品參數(shù):
- 材質(zhì)與類型:種類繁多,包括但不限于:CSK系列(如CSK-IA、CSK-IIIA)合金試塊、RW系列(如RW-75)對比試塊、以及各種平底孔、橫孔、槽型試塊。
- 標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)不同檢測標(biāo)準(zhǔn)(如JB/T, GB/T, ASTM, ISO, DIN)制造。
- 主要特征:具有精確已知尺寸、形狀和位置的人工缺陷,用于校準(zhǔn)檢測設(shè)備的靈敏度、分辨率、聲束特性,以及制作距離-波幅曲線(DAC/TCG)。
使用注意事項(xiàng):
- 明確用途:根據(jù)檢測標(biāo)準(zhǔn)和工藝要求選擇正確的試塊類型。
- 妥善保管:作為計(jì)量基準(zhǔn),應(yīng)輕拿輕放,防止銹蝕和機(jī)械損傷。
- 定期檢定:需按周期送至有資質(zhì)的計(jì)量機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定,確保其計(jì)量溯源性。
- 環(huán)境控制:存放和使用環(huán)境應(yīng)避免溫度劇烈變化,以免影響材料聲速和尺寸。
- 耦合一致性:在校準(zhǔn)和實(shí)際檢測中,應(yīng)使用相同類型和量的耦合劑,以減少誤差。
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