超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊CSK-IA工業(yè)探傷試塊標(biāo)準(zhǔn)RB-2校準(zhǔn)試塊
超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊介紹
CSK-IA 標(biāo)準(zhǔn)試塊
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)：通常為20#鋼或相近聲學(xué)性能的鋼材，經(jīng)熱處理。
- 標(biāo)準(zhǔn)：符合JB/T 10063、GB/T 11345等國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，等效于IIW（國(guó)際焊接學(xué)會(huì)）標(biāo)準(zhǔn)試塊。
- 主要功能：
- 校準(zhǔn)超聲波探傷儀的時(shí)基線性（水平線性）和靈敏度（垂直線性）。
- 測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)、折射角（K值）和前沿距離。
- 測(cè)量探傷系統(tǒng)的分辨率與盲區(qū)。
- 調(diào)整探測(cè)范圍。
- 特征反射體：包含R100mm和R50mm的圓弧面、φ1.5mm橫通孔、25mm和100mm厚度臺(tái)階等。
- 尺寸：約250mm（長(zhǎng)）* 100mm（寬）* 25mm（厚）（具體尺寸以標(biāo)準(zhǔn)圖紙為準(zhǔn)）。
使用注意事項(xiàng)：
- 使用前應(yīng)清潔試塊表面，確保無(wú)油污、銹蝕和明顯劃傷。
- 耦合劑應(yīng)清潔，避免使用腐蝕性液體。
- 操作時(shí)力度應(yīng)適中，避免探頭撞擊試塊，尤其保護(hù)R100mm圓弧面。
- 使用后應(yīng)及時(shí)擦拭干凈，涂覆防銹油，存放于干燥環(huán)境中。
- 定期進(jìn)行計(jì)量檢定，確保其尺寸和聲學(xué)性能符合標(biāo)準(zhǔn)。
- 注意區(qū)分試塊的測(cè)試面（刻字面通常為非測(cè)試面）。
RB-2（或CSK-IIA）標(biāo)準(zhǔn)試塊
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)：與CSK-IA相同，為優(yōu)質(zhì)碳素鋼。
- 標(biāo)準(zhǔn)：符合JB/T 10063標(biāo)準(zhǔn)，主要用于薄板焊縫探傷。
- 主要功能：
- 校準(zhǔn)用于薄壁工件（厚度8mm~25mm）探傷的斜探頭參數(shù)。
- 測(cè)定薄板探傷時(shí)的距離-波幅曲線（DAC曲線）。
- 校準(zhǔn)探測(cè)范圍與靈敏度。
- 特征反射體：包含R50mm和R25mm的圓弧面、φ6mm橫通孔、不同深度的臺(tái)階。
- 尺寸：約150mm（長(zhǎng)）* 50mm（寬）* 25mm（厚）（具體尺寸以標(biāo)準(zhǔn)圖紙為準(zhǔn)）。
使用注意事項(xiàng)：
- 與CSK-IA試塊類似，需保持清潔和防銹。
- 因其尺寸較小，操作時(shí)更需小心輕放，防止跌落變形。
- 主要用于薄壁工件校準(zhǔn)，不適用于厚壁工件校準(zhǔn)。
- 橫通孔（φ6mm）易積存耦合劑和污物，使用后應(yīng)徹底清理。
- 同樣需要定期檢定。
通用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)環(huán)境：應(yīng)在溫度穩(wěn)定、無(wú)強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下進(jìn)行。
- 探頭匹配：校準(zhǔn)前確認(rèn)探頭標(biāo)稱頻率、角度與試塊適用范圍匹配。
- 儀器狀態(tài)：校準(zhǔn)前，超聲波探傷儀應(yīng)預(yù)熱穩(wěn)定。
- 標(biāo)準(zhǔn)一致性：確保試塊標(biāo)準(zhǔn)與所執(zhí)行的產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求一致。
- 損耗品：試塊屬于計(jì)量器具，隨使用會(huì)產(chǎn)生正常磨損，達(dá)到規(guī)定磨損極限后應(yīng)停止使用。
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