新標準NB/T47013.3-2015 CSK-IIA-1/IIA-2/IIA-3超聲波檢測試塊
上海雙旭 NB/T47013.3-2015 CSK-IIA系列超聲波檢測試塊
產品概述
CSK-IIA系列試塊是根據中華人民共和國能源行業標準NB/T47013.3-2015《承壓設備無損檢測 第3部分：超聲檢測》設計制造的標準試塊。該系列試塊主要用于超聲波檢測儀器的性能測試、探頭性能校準以及檢測系統的綜合性能驗證，是承壓設備制造、安裝和在役檢驗中超聲波檢測的關鍵計量器具。
產品參數
- 標準依據：NB/T47013.3-2015 (替代原JB/T4730.3-2005)
- 試塊型號：CSK-IIA-1, CSK-IIA-2, CSK-IIA-3
- 主要材料：優質碳鋼或低合金鋼（如20#鋼），經正火處理，晶粒度7~8級。
- 表面狀態：檢測面及反射面粗糙度Ra ≤ 0.8μm，其余面Ra ≤ 1.6μm。
- 主要用途：
- CSK-IIA-1： 主要用于測定斜探頭的入射點、折射角（K值）和調整檢測范圍（時基線比例）。
- CSK-IIA-2/IIA-3： 除具備IIA-1功能外，主要用于繪制距離-波幅曲線（DAC曲線），評估檢測靈敏度及測定探頭與儀器的組合性能。
- 關鍵尺寸特征：
- 均包含R50和R100的圓弧反射面。
- 包含不同深度的φ1.5×20橫孔（如IIA-2/IIA-3）。
- 試塊厚度（高度）通常為50mm或根據標準規定。
使用注意事項
- 使用前檢查：使用前應檢查試塊外觀，確認無銹蝕、磨損、磕碰傷，特別是各反射體的反射面及檢測面。如有油污需清潔。
- 耦合劑：使用時需施加合適的耦合劑（如機油、甘油、漿糊等），并確保耦合良好、穩定。
- 操作規范：探頭在試塊上移動時應平穩、壓力均勻，避免劃傷試塊表面。測定入射點和折射角時，探頭應沿圓弧面中心線前后移動尋找最高回波。
- 環境與保養：試塊應在溫度適宜的環境下使用，避免高溫、低溫影響聲速。使用后應及時擦凈耦合劑，涂覆防銹油，置于干燥環境中保存。
- 定期檢定：試塊屬于計量標準器具，應按照相關計量規程或標準要求進行定期檢定或校準，以確保其尺寸和聲學性能的準確性。通常檢定周期為一年。
- 區分型號：注意CSK-IIA-2與CSK-IIA-3在橫孔深度上的區別，應根據檢測板厚范圍選擇合適的試塊繪制DAC曲線。
- 禁止他用：嚴禁將試塊作為其他工具的代用品（如敲擊、墊塊等），防止其變形或損傷。
備注
NB/T47013.3-2015標準中的CSK-IIA系列試塊與原JB/T4730.3-2005標準中的CSK-IIA系列在設計和用途上基本一致，具有延續性。具體尺寸參數及橫孔位置請嚴格參照NB/T47013.3-2015標準附錄A中的圖紙規定。
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