31WIA一米平面光柵攝譜儀
產品概述
上海雙旭31WIA一米平面光柵攝譜儀是一款專業級光學分析儀器，采用一米焦距平面衍射光柵系統，適用于金屬材料、環境監測、科研實驗等領域的光譜分析需求。其模塊化設計兼顧實驗室固定安裝與移動檢測場景，可滿足多樣化的光譜測量要求。
核心特點
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光學性能優異
配置高分辨率平面閃耀光柵，線色散率可達0.8nm/mm（一級光譜），配合精密機械傳動系統，確保波長定位準確性和重復性。入射狹縫支持2-50μm連續可調，用戶可根據樣品特性靈活優化分辨率。
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智能化操作體驗
集成電動掃描控制系統，可通過計算機實現全波段自動掃描。配套專業光譜軟件提供實時譜圖顯示、峰值標定、半定量分析等功能，簡化數據處理流程。
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穩定可靠的機械結構
采用鑄鐵基座與不銹鋼導軌組合，有效抑制環境振動干擾。光室恒溫控制系統可將內部溫度波動控制在±0.5℃內，保障長時間測量的穩定性。
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擴展兼容性強
支持CCD探測器、光電倍增管等多種信號接收裝置選配，適配不同靈敏度需求。預留多端口光學接口，便于與激光器、顯微鏡等設備聯用。
典型應用場景
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金屬冶煉行業：合金成分快速檢測
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地質勘探：礦物樣品微量元素分析
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教學科研：原子發射光譜實驗教學
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環保領域：水體重金屬污染監測
維護與服務
提供定期光學系統校準指導，關鍵部件采用模塊化設計便于維護。用戶可獲取操作培訓與專業技術支持服務。
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