UV759CRT分光光度計
以下是針對上海雙旭電子有限公司UV759CRT掃描型紫外可見分光光度計的產品介紹（基于公開信息綜合整理）：
一、核心技術與光學設計
采用新型不對稱分光技術，融合雙光束系統的穩定性與單光束的高光通量優勢，顯著提升信號噪聲比和檢測精度14。光學系統基于Czerny-Turner光路設計，配合高性能光柵（1200條/mm級別），確保線性檢測準確性與超低雜散光干擾，適用于190-1100nm全波段分析46。
二、核心性能參數
- 波長精度：±0.3nm，支持0.1nm步進波長自動校準16。
- 穩定性：±0.0005A/h@500nm，基線平直度達±0.001A/h16。
- 光譜帶寬：1.8nm，確保測試數據準確性1。
- 光度范圍：0-199.9%T，吸光度范圍0-4A4。
三、智能化操作特性
- 大屏幕交互：配置128×64點陣式液晶顯示屏，直接顯示標準曲線、測試數據及光譜圖譜，支持中文界面操作46。
- 數據管理：主機可存儲200組檢測數據及200條標準曲線，支持斷電數據保護46。
- 擴展性：
- 可選配自動八聯比色池，兼容5-100mm光程比色皿14。
- 支持外接打印機或電腦反控軟件，實現數據打印及高級分析（如動力學掃描、DNA/蛋白質分析）46。
四、多功能應用模塊
- 定量分析：支持標準曲線法、系數法、多波長法及雙波長法4。
- 光譜掃描：全波段自動掃描功能，可同時對多樣品進行光譜分析16。
- 專用測試：集成動力學時間掃描、光譜導數分析等功能4。
五、用戶友好設計
- 光源系統：采用進口長壽命氘燈/鎢燈，插座式設計實現免光學調試更換6。
- 樣品室：寬敞空間適配多種規格比色皿，簡化實驗流程4。
注：以上信息整合自企業公開資料146，聚焦儀器性能與功能描述，未涉及營銷性表述。實際配置可能因需求調整，建議聯系廠家獲取詳細技術方案。
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